感應耦合電漿－原子發射光譜分析法

感應耦合電漿原子發射光譜分析儀(Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectroscopy; ICP-AES)主要用於檢測樣品中的金屬元素和部分非金屬元素。透過產生高溫等離子體狀態，ICP-AES能夠激發樣品中的元素，使其發射出特定波長的光譜線，進而確定樣品中不同元素的存在和濃度。其ICP-AES在多個領域得到廣泛應用，地球科學領域可應用於地熱、地質和水資源探勘、環境監測等。其主要優點包括高靈敏度、快速分析速度以及相對簡單的樣品制備過程，使其成為現代分析化學中不可或缺的重要工具之一。其原理乃是利用電漿提供熱能，將原子激發至激態，根據能量守恆原理，當原子回復基態時，會將所吸收的特定能量以光能的形式釋出，經由分光儀可獲得發射光譜，由發射光譜即可比對，進行元素定性與定量的測量。

M ＋ E à M⁺⁺ ＋ hν

M：游離之原子或離子
E：激發能量
M⁺⁺：激發態之原子或離子
hν：發光光子之能量，亦即電子由高能階回到的能接之能量差

感應耦合電漿原子發射光譜分析儀主要包含四個部分：

• 激發源：包含射頻發生器、電漿火炬、樣品引入裝置(霧化器和噴霧室)、氣體供應裝置和流量控制器。
• 光學系統：包含影像聚光系統(反射鏡和凸透鏡)和單色分光器。
• 電子系統：用來連接光學系統和電腦系統的光譜連接器。
• 電腦系統：可進行資料處理、儲存和輸出。

感應耦合電漿原子發射光譜分析儀(ICP-AES)
(註: ICP-AES為預計購置，儀器照片僅供參考)